Tugas akhir ini berkaitan dengan penelitian mengenai perbandingan tiga algortima test case generation untuk kebutuhan combinatorial testing khususnya pada teknik t-way testing yang diterapkan pada fungsi filter pencarian di website Nordstrom. Hasil yang diharapkan dari tugas akhir ini adalah mengetahui algoritma terbaik dalam menghasilkan jumah test case terkecil dan waktu eksekusi tersingkat dari masing-masing algoritma. Combinatorial Testing (CT) adalah metode pengujian untuk mendeteksi failure yang dipicu oleh interaksi parameter. T-way testing merupakan salah satu teknik dari CT. T-way testing memerlukan objek matematika berupa covering array (CA) sebagai test suite. CA dapat dibuat menggunakan algoritma, seperti algoritma AETG dan IPOG. Perlu diketahui dari kedua algoritma tersebut mana yang terbaik dalam menghasilkan jumlah test case terkecil dan waktu eksekusi tersingkat. Dengan begitu pengguna dapat menentukan algoritma yang cocok digunakan sesuai dengan kebutuhanya. Pendekatan yang dilakukan pada penelitian ini adalah melakukan percobaan menjalankan aplikasi test case generation dengan algortima IPOG dan 2 variasi algoritma AETG, yaitu AETG deterministic dan AETG non-deterministic. SUT yang digunakan adalah 10 fungsi filter pencarian pada website Nordstrom. Alat eksperimen yang digunakan adalah tools bernama JCunit hasil modifikasi. Skenario penelitian dilakukan pada coveing array strength (t) 2 dan 3. Hasil eksperimen pada skenario t=2 menunjukan AETG deterministic menghasilkan jumlah test case terkecil dari algoritma lainnya pada sebagian besar SUT, tetapi membutuhkan waktu eksekusi yang lama. Waktu eksekusi ini dapat dikurangi secara signifikan oleh AETG non-deterministic. Pada skenario t=3 menunjukan AETG non-deterministic menghasilkan jumlah test case lebih kecil dari algoritma IPOG pada sebagian besar SUT. Waktu eksekusi AETG mulai meningkat pada skenario ini. Sedangkan waktu eksekusi IPOG lebih sebentar dibandingkan dengan 2 variasi AETG pada skenario t=2 maupun t=3. Kata Kunci: Combinatorial Testing, T-way testing, Coverring Array, AETG, IPOG.

This final project is related to research on the comparison of three test case generation algorithms for combinatorial testing needs, especially in the t-way testing technique applied to the search filter function on the Nordstrom website. The expected result from this final project is to know the best algorithm in producing the smallest number of test cases and the shortest execution time of each algorithm. Combinatorial Testing (CT) is a testing method for detecting failures that are triggered by parameter interactions. T-way testing is a technique of CT. T-way testing requires a mathematical object in the form of a covering array (CA) as the test suite. CAs can be created using algorithms, such as the AETG and IPOG algorithms. It is necessary to know which of the two algorithms is the best in producing the smallest number of test cases and the shortest execution time. That way users can determine the appropriate algorithm to use according to their needs. The approach taken in this study is to conduct an experiment running a test case generation application with the IPOG algorithm and 2 variations of the AETG algorithm, namely deterministic AETG and non-deterministic AETG. The SUT used is the 10 search filter functions on the Nordstrom website. The experimental tool used was a modified tool called the JCunit. The research scenario was carried out at coveing array strength (t) 2 and 3. The experimental results in the t = 2 scenario show that AETG deterministic produces the smallest number of test cases compared to other algorithms in most SUTs, but requires a long execution time. This execution time can be significantly reduced by non-deterministic AETG. In the t = 3 scenario, it shows that non-deterministic AETG produces a smaller number of test cases than the IPOG algorithm in most SUTs. The AETG execution time begins to increase in this scenario. While the IPOG execution time is shorter than the 2 variations of AETG in the t = 2 and t = 3 scenarios. Keywords: Combinatorial Testing, T-way testing, Coverring Array, AETG, IPOG.

http://digilib.polban.ac.id/gdl.php?mod=browse&op=read&id=jbptppolban-gdl-danielarma-13063